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第316章 芯片测试

没有专业的检测设备?

    事实是,华能集团总部用于检测芯片的设备十分全面,从物理性能到软件性能的测试一应俱全,并且还能随时根据不同情况设计不同的测试流程。

    碍于王烁提供芯片的保密性,以及余同光想要尽量封锁消息的考虑,参与测试的人员并不多,硕大的测试场地已经被清空,只有四个人在现场。

    除了操作设备的徐小封之外,余同光、柳叶眉,再加一个帮忙的黄总监,仅此而已。

    “余总,柳小姐。”

    黄总监看着正在忙碌的徐小封,笑着向两人介绍道:“芯片的测试是一项极为复杂的工作。由于芯片是现代电子学的集大成者,所以它的测试内容也涵盖了方方面面。”

    “一般来说,我们测试芯片主要有两种方法,一种是开放式测试,也就是将芯片的封层一层层揭开,逐步测试内在的电路,查看芯片的设计结构;另一种是封闭式测试,主要测试芯片的物理性能和是否达到设计目的。”

    “这第二种操作起来也很复杂,它具体分为功能测试、参数测试、曲线测试、高温循环测试、高温存储测试、防跌落测试等等项目……”

    说到这里,黄总监看着已经将芯片从黑箱子中拿出,放在测试台上,并且操作探针一一对应引脚的徐小封,继续道:“当然,按照余总的要求,其他测试项目我们今天就不进行了,主要进行参数测试。”

    “第一步要做的,就是边界探测扫描。”

    黄总监面容严肃:“这是十分重要的步骤,利用jtag接口扫描整个芯片的电路,保证其正常功能,如果芯片有缺陷,这一步就可以直接探测到缺陷点。”

    柳叶眉打断他道:“黄总监,如果芯片电路有缺陷,那么会有什么异常?”

    “如果有缺陷,那么测试仪就会显示异常,以红色醒目字体提醒,同时将会显示出电路缺陷的位置……”

    “是不是这样?”

    柳叶眉指了指面前的屏幕。

    黄总监正沉浸在为人师表的满足感中,闻言向着面前的屏幕看去。

    这一看,他顿时懵了。

    眼前的屏幕上,一行醒目的红色字体出现:未检测到芯片。

    这是怎么回事?

    他转头看向旁边的徐小封,却见他也是一脸懵逼。

    亲自上前,仔细检查了一下芯片引脚,检查了探针连接处,并没有发现什么问题,连接到很到位,顺序也没错。

    不死心的黄总监重启了程序,片刻后,检测结果出来了,仍然是醒目的红色字体。

    “这……”

    黄总监茫然了。

    余同光将目光转向了柳叶眉。

    柳叶眉则将头转向了零蛋。

    “零,芯片无法进行边界扫描如何处理?”

    “请稍等,正在申请授权。”

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